經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀Profilm 3D光學(xué)輪廓儀具有以下優(yōu)點(diǎn)：

   ?   價(jià)格優(yōu)勢(shì)：市場(chǎng)上具性?xún)r(jià)比的白光干涉輪廓儀，具有價(jià)格優(yōu)勢(shì)的高精度輪廓儀。

   ?   快速測(cè)量大面積區(qū)域：測(cè)量范圍為毫米級(jí)別，配置XY樣品臺(tái)達(dá)100mm*100mm，可實(shí)現(xiàn)大面積樣品的輕松測(cè)量；

   ?   簡(jiǎn)單易用：只需將樣品放置于樣品臺(tái)上，即可直接進(jìn)行測(cè)量；

   ?   可以測(cè)量非接觸式非平坦樣品：由于光學(xué)輪廓測(cè)量法是一種非接觸式技術(shù)，可以輕松測(cè)量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測(cè)量曲面的表面光潔度，紋理和粗糙度。除此之外，作為一種非接觸式方法光學(xué)輪廓儀不會(huì)像探針式輪廓儀那樣損壞柔軟的薄膜。

   ?   無(wú)需更換耗材：只需要一個(gè)LED光源，無(wú)需其他配件更換；

   ?   可視化3D功能：Profilm 3D輪廓儀具有強(qiáng)大的處理軟件，軟件除包括表面粗糙度，形狀和臺(tái)階高度的測(cè)量外，還可以任意角度移動(dòng)樣品量測(cè)三維圖形，多角度分析樣品圖像。

適用于各類(lèi)樣品：Profilm 3D輪廓儀適用于各類(lèi)金屬、非晶硅和多晶硅、陶瓷材料、電介質(zhì)、硬質(zhì)涂層、高分子聚合物、光刻膠等的表面輪廓及粗糙度等測(cè)量。

Profilm 3D光學(xué)輪廓儀功能：

?   用于測(cè)量粗糙度

使用Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀可以以秒為單位測(cè)量表面紋理，光潔度和粗糙度，只需單擊鼠標(biāo)即可完成。Profilm3D采用白光干涉測(cè)量（WLI）和相移干涉測(cè)量（PSI）等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，可快速測(cè)量大面積2D區(qū)域的粗糙度和紋理，無(wú)需接觸樣品。

?   測(cè)量曲面樣品

由于Profilm 3D是一種非接觸式技術(shù)，因此可以輕松測(cè)量彎曲和其他非平面表面。另外在測(cè)量方法中添加形狀去除（也稱(chēng)為形狀去除）和過(guò)濾，即可輕松實(shí)現(xiàn)表面光潔度，紋理和粗糙度的測(cè)量！

?   任何粗糙度參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)

Profilm 3D擁有47個(gè)ASME / EUR / ISO粗糙度參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)?？梢栽诮Y(jié)果中顯示其中的任何一個(gè)或全部，從而使自定義報(bào)告變得輕而易舉。符合ISO 9000和ASME B46.1標(biāo)準(zhǔn)，ISO現(xiàn)在*支持測(cè)量表面粗糙度的光學(xué)方法。特別是，ISO 25178第604部分描述了Profilm3D的WLI方法（其中也稱(chēng)為相干掃描干涉測(cè)量法）。

二、主要功能

  主要應(yīng)用

臺(tái)階高度

表面粗糙度

線寬及輪廓

  技術(shù)能力

厚度范圍，VSI  50nm-100mm

厚度范圍，PSI  0-3 µm

樣品反射率范圍 0.05%-100%

Piezo范圍 500 µm

XY平臺(tái)范圍100mm x 100mm

三、應(yīng)用

臺(tái)階高度、表面形貌、表面粗糙度、大面積拼接等