iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機(jī)械測(cè)量系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進(jìn)行準(zhǔn)確，可重復(fù)的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試。iNano具有很大的力和位移動(dòng)態(tài)范圍，可以施加高達(dá)50mN的力來測(cè)試薄膜和軟材料。模塊化選項(xiàng)可滿足多種應(yīng)用，包括材料特性圖和高溫測(cè)試。

Nano Indenter® G200原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是一種準(zhǔn)確，靈活，使用方便的納米級(jí)機(jī)械測(cè)試儀器。 G200 測(cè)量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個(gè)數(shù)量級(jí)的形變測(cè)量。 可測(cè)量聚合物，凝膠和生物組織的復(fù)數(shù)模量以及薄金屬膜的蠕變響應(yīng)（應(yīng)變率靈敏度）。 模塊化適用各種應(yīng)用：頻率特定測(cè)試，定量刮擦和磨損測(cè)試，集成的基于探頭的成像，高溫納米壓痕測(cè)試，擴(kuò)展負(fù)載容量高達(dá)10N 和自定義測(cè)試。

微納米壓痕儀（高溫）通過在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)。科學(xué)出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗(yàn)數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個(gè)非常有價(jià)值的工具。

TNI LF-2000原位自動(dòng)納米操作系統(tǒng)是目前市面上基于SEM電鏡下使用的高自動(dòng)化程度的納米操作系統(tǒng)，也是一種能夠在SEM電鏡下提供可重復(fù)定位、低漂移、閉環(huán)運(yùn)動(dòng)控制定位的納米操作系統(tǒng)。LF-2000可以在原位條件下進(jìn)行力學(xué)測(cè)量、電學(xué)測(cè)試、納米物體拾取和裝配、制作微納米器件、納米電子器件電學(xué)測(cè)量等。

FT-NMT04納米力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準(zhǔn)確量化材料在微觀和納米尺度上的力學(xué)行為。