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    當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心拉伸臺原位拉伸臺

    原位拉伸臺

    產(chǎn)品簡介

    為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn),Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng),比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD,樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)原位“拉伸—剪切"、“壓縮—剪切"、“單軸拉伸/壓縮"、“純剪切"及疲勞力學(xué)測試等多重測試模式,實(shí)現(xiàn)原位復(fù)合載荷測試薄膜及細(xì)絲力學(xué)實(shí)驗(yàn)。

    產(chǎn)品型號:
    更新時間:2024-06-17
    廠商性質(zhì):代理商
    訪問量:3833
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    品牌其他品牌價格區(qū)間面議
    儀器種類其他應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣


    原位拉伸臺

    Swift原位拉伸試樣臺也可立使用測定材料力學(xué)參數(shù);同時由于結(jié)構(gòu)緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性,因此可實(shí)現(xiàn)與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設(shè)備的兼容,所采用的超低速準(zhǔn)靜態(tài)加載方式有利于在成像儀器下對載荷作用下材料細(xì)微的變形損傷變化狀況進(jìn)行連續(xù)的可視化原位監(jiān)測,便于系統(tǒng)深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機(jī)制與微觀結(jié)構(gòu)變化間的規(guī)律。


    原位拉伸臺應(yīng)用

    Swift拉伸試驗(yàn)臺是通用的,能夠在各種材料上進(jìn)行各種機(jī)械測試。在靜態(tài)或動態(tài)條件下觀察材料表面納米級微觀形態(tài)和結(jié)構(gòu)變化。通過實(shí)時獲取的載荷,形變和溫度等數(shù)據(jù),并結(jié)合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結(jié)構(gòu)分析數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了定量分析材料微觀力學(xué)性質(zhì),相變行為,取向變化,裂紋萌生和擴(kuò)展,材料疲勞和斷裂機(jī)制,材料彎曲機(jī)制,高溫蠕變性,分層,形成滑移面以及脫落等現(xiàn)象。

    - 半導(dǎo)體器件,薄膜

    - 硬質(zhì)涂層,電鍍層

    - 金屬材料,陶瓷材料

    - 玻璃,塊體材料

    - 復(fù)合材料,聚合物材料

    - 電鍍層,釬焊或焊接接頭

    - 礦物,木材

    - 有機(jī)材料等等



    測試方法




    拉伸試樣臺型號


    Swift開發(fā)了一系列基礎(chǔ)拉伸試樣臺,可以實(shí)現(xiàn)*定制和增強(qiáng),以適應(yīng)任何應(yīng)用。


    型號 A 傾斜臺




    該模型設(shè)計了一個帶有旋轉(zhuǎn)和傾斜工作臺,測試樣品可以在任意一個0°平角或70°EBSD角度。標(biāo)準(zhǔn)加載裝置大加載力5KN,可升級10kN測壓元件。樣品臺行程26mm。


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    型號 B 試驗(yàn)臺



    型號B試驗(yàn)臺具有較低的外形系數(shù)以適合受限的SEM室,并且可以在0°或70 °EBSD下測試樣品。負(fù)載范圍可達(dá)5kN。樣品臺行程可達(dá)26mm。



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    型號 C 試驗(yàn)臺



       C型微型拉伸臺是專門為小型或臺式SEM開發(fā)的,并配置為在0°或70 °EBSD下測試樣品。負(fù)載范圍高達(dá)2kN。樣品臺行程可達(dá)16mm。


                 




    控制器和軟件


      Swift儀器的拉伸臺采用計算機(jī)控制的工作流程設(shè)計,使操作簡單高效。


    控制器



    Swift Instruments的控制器和軟件為拉伸臺和其他選項(xiàng)提供了一個計算機(jī)界面,并與運(yùn)行Windows 10的臺式電腦、筆記本電腦和平板電腦兼容。


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    軟件


    程序測試?yán)掏ㄟ^一個拖放界面,能夠控制力和溫度。記錄試驗(yàn)荷載、位移和溫度,自動計算應(yīng)力和應(yīng)變。測試數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出進(jìn)行外部分析。


       




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