產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
美國(guó)EDAX能譜儀
EP6美國(guó) Cascade Microtech EP6探針臺(tái)
TEM氮化硅薄膜窗口
NTEGRAPrima俄羅斯產(chǎn)全功能掃描探針原子力顯微鏡
Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀
主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
石英/硅/聚合物模板高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）
iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
PLD/Laser-MBE脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
P170全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
納米團(tuán)簇束流沉積系統(tǒng)
P7晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
Lumina光學(xué)表面缺陷分析儀
Profilm 3D經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣
Solver P47俄羅斯產(chǎn)高性?xún)r(jià)比掃描探針顯微鏡原子力
納米壓印膠
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心拉伸臺(tái)
為了滿(mǎn)足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開(kāi)發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺(tái)。這些拉伸試樣臺(tái)適合多種顯微觀測(cè)系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實(shí)現(xiàn)原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學(xué)測(cè)試等多重測(cè)試模式，實(shí)現(xiàn)原位復(fù)合載荷測(cè)試薄膜及細(xì)絲力學(xué)實(shí)驗(yàn)。
更新時(shí)間：2024-06-17
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：3833
